Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Wydawnictwo Naukowe PWN
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Oprawa miękka |
Wydanie: 1 |
ISBN: 978-83-01-23158-3 |
EAN: 9788301231583 |
Liczba stron: 436 |
Format: 16.5x23.5cm |
Cena detaliczna: 99,00 zł |
78,52 zł
83,11 zł - najniższa cena z 30 dni przed obniżką
99,00 zł - cena detaliczna
Dodaj do koszyka
Do koszyka
Kup w pakiecie
Kupuj więcej i oszczędzaj
Opis
Inni klienci sprawdzali również
Recenzje
Zapraszamy do napisania własnej recenzji, możesz wysłać do nas tekst przez formularz.
Powiedz, co sądzisz o tej książce
Dodaj recenzję+
Komentarze
Podziel się opinią z innymi czytelnikami i fanami księgarni.
Komentarze nie są potwierdzone zakupem