DARMOWA DOSTAWA OD 99 ZŁ Wikonka SZCZEGÓŁY>>
Menu

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość Książka

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
77,38 zł
104,00 zł - sugerowana cena detaliczna
Wyślemy w ciągu 24h
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
Rodzaj oprawy: Okładka broszurowa (miękka)
Wydanie: 1
Liczba stron: 436
Format: 16.5x23.5cm
Rok wydania: 2023
Zobacz więcej

Kup w zestawie

77,38 zł
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Szczegółowe informacje na temat książki Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
EAN: 9788301231583
Rodzaj oprawy: Okładka broszurowa (miękka)
Wydanie: 1
Liczba stron: 436
Format: 16.5x23.5cm
Rok wydania: 2023
Data premiery: 2023-11-09
Język wydania: polski
Podmiot odpowiedzialny: Wydawnictwo Naukowe PWN S.A.
ul. Gottlieba Daimlera 2
02-460 Warszawa
PL
e-mail: [email protected]

Podobne do Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość

Oceny i recenzje książki Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Średnia ocen:
~ /10
Liczba ocen:
0
Powiedz nam, co myślisz!

Pomóż innym i zostaw ocenę!

Ten produkt nie ma jeszcze żadnych recenzji

Pomóż innym i zostaw ocenę!

Bestsellery

Bestseller
Wysyłka przed premierą!
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Wysyłka przed premierą!
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Wysyłka przed premierą!
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller

Nowości

Nowość
Nowość
Nowość
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Nowość
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Nowość
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Nowość
Bestseller
Bestseller
Bestseller
Nowość
Nowość
Bestseller
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Bestseller
Nowość
Bestseller
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Bestseller
Bestseller
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość
Nowość